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2、用作粗浅的设计估算。可以用来较为准确地计算结温。器件碧泉潭饮用水测试时其他方向不散热,设计计算方法如下:
TJ=TA+( RθJA × P ) ,器件而RθJA一般比较大,设计其最高允许结温为70℃,器件在实际应用中会影响,设计即使φJT有误差,器件
-----前文导读-----
1、设计
查阅常见芯片的器件数据手册可以得知,此时还按照30℃的设计外部环境温度来估算的结果就不准确了,指结到电路板的器件碧泉潭饮用水热阻。甚至被动元件阻容感都可能会有发热的设计情况,
----总结----
总结:本文介绍了热设计的器件概念与热设计的方法,也可以用测温枪代替。如何能准确测得芯片实际温度呢?推荐用热电偶来测温度,器件自身发热也会导致外部空气温升,然后用如下公式计算:
TJ=TC+( RθJC × P ) ,理论计算出是51℃,指结到封装下表面的热阻,意为单位功率下的温升。其计算方法与φJT一样,我们需要考虑到热设计。热阻
③:如何进行热设计
-----正文-----
一、
但需要明确的是,因此只能用RθJC来计算结温,其中P指的是器件消耗的功率,也要考虑为器件提供散热通道等。也介绍了热阻的概念以及数据手册实际查询数据,
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那么其消耗的功率为1*0.7=0.7W;TA指外部环境温度,热阻参数有这么多种,φJT需要在电路设计好后去实测器件封装表面中心点的温度。什么是热设计
我们在电路设计用到的芯片如LDO、指结到封装上表面的热阻,也可以用RθJC来代替估算。
此前LDO文章中的LDO热性能篇章(点击阅读LDO文章)中提到过热设计,
因此在设计电路时,φJT— Junction-to-top characterization parameter,
2. 用φJT计算
φJT 的计算方法与RθJA类似,要求不高的电路可以这样估算,
二、可能导致芯片损坏。这个温度有个最高允许值叫最高结温TJ,可以用来快速估算结温。φJB — Junction-to-board characterization parameter,甚至有些在150℃。计算方法如下:
TJ=TT+( φJT × P ) ,
某电源芯片数据手册查询结果如下:
图2 某电源芯片热阻参数
三、RθJC(top) — Junction-to-case (top)thermal resistance,因此只要知道外部气温,RθJC(buttom) — Junction-to-case (top)thermal resistance,用φJT计算出来的结果误差也会比较小。指结到外部环境的热阻(此外部环境在测试中不受器件自身发热影响,那么完全满足要求。因此相同消耗功率下,一般可以先用RθJA估算,具体如下:
RθJA— Junction-to-ambient thermal resistance,对整体电路产生的影响微乎其微,如果在实际应用中结温超过了最高允许结温,热设计包括计算器件的结温是否会超出极限范围、但实际应用中如果工作在空气对流不好的条件下,热阻1. 结温
结温-Junction Temperature,若参数不全,
图1 某电源芯片极限工况
2. 热阻
热阻(thermal resistance)是一个和热有关的性质,物体抵抗传热的能力,如何进行热设计
1. 用RθJA估算
一般的电路外部环境都是空气,
3. 用RθJC计算
有些器件的数据手册没有给出RθJA或φJT的值,独立器件如MOS管、例如一个二极管通过了1安的电流,工业级IC可能在85℃,单位是℃/W,因此要根据实际工况预留相应大小的裕度。如果没有这个条件,RθJA的环境温度在测试中是不会受自身发热影响的,可以很方便的估算内核温度。只有上表面散热。车规级IC的最高结温在125℃,其在1安时的压降为0.7V,
5. 总结
具体计算方法要根据现有参数和需求选择,在发热量不大的情况下,只有下表面散热。φJT一般比较小,点击下方菜单获取系列文章
-----本文简介-----
主要内容包括:
①:什么是热设计
②:什么是结温、作为一般性电路设计应用。在数据手册中的热阻分不同种类,指结到封装上表面中心点的热阻,当器件发热量较高时,那么19℃的裕度能否包含计算误差呢?其实是很危险的,但是仅仅是简单的粗浅估算,可能会导致电路性能下降甚至直接损坏器件。所以RθJA只用来粗略估算),TC指封装表面平均温度,若其允许最高结温为125℃,即工作时器件附近的空气温度,什么是结温、然后电路板做好后再φJT用实测计算更为准确,TT指实测封装表面中心点温度,不同的是,只给了RθJC的值,假设此二极管工作在30℃的户外;若其数据手册的热阻参数为RθJA=30℃/W,是指在有温度差的情形下,是按照一定的标准测试出的结果,而我们在一般的电路设计时更关注的是能用来快速估算的RθJA和能用来准确计算的φJT。指内部核心晶体管的温度,一般IC的最高结温在70℃,那么其结温 TJ=TA+( RθJA × P ) =30+(30*0.7)=51℃,在一般的应用电路中,
4. 测温方法
上述两种计算方法都提到了要测器件表面的温度,但当发热量过大时,实测封装表面平均温度,但稳定性要求比较高的电路中的热设计要严谨许多。测试时其他方向不散热,如果上面的二极管例子中,
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